德国karldeutsch LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪由爱仪器仪表网专业代理，本产品是拥有着大屏幕，使用方便的涂层测厚仪，现在热卖中，如需购买，可通过ai1718.com的客服热线联系我们!
LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪简介：
?LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法，是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。
?LEPTOSKOP2042涂层测厚仪利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
?LEPTOSKOP2042涂层测厚仪将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。
?LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪特点：
?大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
?校准选项
?出厂时已校准，立即可用
?在未知涂层上校准
?零校准
?在无涂层的基体上一点和多点校准
?在有涂层的基体上校准
?校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出
?可选择的显示模式，以完美形式去完成测量任务
?输入和极限监视
?在Windows下有简单的存储读数档案管理
?可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
?统计
?可统计评估999个读数
?最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视
?局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）
?在线统计，所有统计值概括
|
普通型
|
|
铁基膜层测厚仪标准套
|
2042F
|
|
|
非铁基膜层测厚仪标准套
|
2042NF
|
|
|
铁基/非铁基膜层测厚仪标准套
|
2042
|
|
|
数据型
|
铁基
|
2042 Fe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱
|
2042 EF
|
|
|
2042 Fe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱
|
2042DF
|
|
|
非铁基
|
2042 NFe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱
|
2042ENF
|
|
|
2042 NFe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱
|
2042DNF
|
|
|
铁基/非铁基
|
2042 Fe/NFe Set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱
|
2042 E
|
|
|
2042 Fe/NFe Data Set----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱
|
2042 D
|
|
附件：
|
|
试块和膜片
|
|
探头定位装置 (适用于微型探头)
|
|
定位辅助装置 (适用于微型探头)
|
|
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
|
|
电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里
|
技术支持
